多选题：电子元器件出厂检验部门从每批产品中抽取100件进行检验，并记录了不合格品数，利用这些数据可以绘制（　　）对生产线进行监控

题目内容：

电子元器件出厂检验部门从每批产品中抽取100件进行检验，并记录了不合格品数，利用这些数据可以绘制（　　）对生产线进行监控。 A． p图
B． X-R图
C． np图
D． c图
E． u图

参考答案：

答案解析：

由偶然原因造成的质量变异（　　）。

由偶然原因造成的质量变异（　　）。A．由TQC小组决策如何改善 B．改善成本高 C．可以通过分析过程能力发现 D．只是偶然出现 E．称为局部问题

分类：质量专业基础理论与实务题型：多选题

（　　）是对定量数据分布情况的一种图形表示，由一系列矩形组成。A．因果图 B．排列图 C．树图 D．直方图

分类：质量专业基础理论与实务题型：多选题

下列关于Cp和Cpk的说法中不正确的是（　　）。 A．Cp越大，质量能力越强 B．有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心μ偏移情况下的过程能力指数，C

分类：质量专业基础理论与实务题型：多选题

某批产品批量1000件，不合格品率P=10%，从该批产品中抽取10件，其中不合格品数不超过1件的概率为（　　） A．0．916 B．1．9×0．99 C．

分类：质量专业基础理论与实务题型：多选题

上面获得回归方程可否预测15天和35天的抗压强度？（　　） A．都可以 B．可预测15天，但不预测35天的抗压强度 C．都不可以 D．可预测35天

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