题目内容：
一般情况下，电子元器件的寿命试验属于（）
A.非破坏性检验
B.破坏性检验
C.全数检验
D.感官检验
参考答案：
选择题：一般情况下，电子元器件的寿命试验属于（）
- 题目分类：中国大学MOOC慕课
- 题目类型：选择题
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