选择题:以下对于晶体生长描述正确的是()

题目内容:

以下对于晶体生长描述正确的是()

A.晶体生长是平衡过程。

B.晶面的法向生长速度越快,就越容易留下来;反之则容易消失。

C.晶体的原子最密排面表面能最低。

D.晶体的形态取决于各个晶面的法向生长速度。

参考答案:

SiC可以用熔体生长法。

SiC可以用熔体生长法。这是一个关于生长 半导体材料的相关问题,下面我们来看

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掺锗、氮,重掺硼的籽晶具有高强度。

掺锗、氮,重掺硼的籽晶具有高强度。这是一个关于半导体材料的相关问题,下面我们来看

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以下对于直拉硅晶体中的碳杂质描述错误的是()

以下对于直拉硅晶体中的碳杂质描述错误的是()这是一个关于性质 晶体 半导体材料的相关问题,下面我们来看

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氢可以钝化硅晶体中的氧沉淀、位错和金属杂质。

氢可以钝化硅晶体中的氧沉淀、位错和金属杂质。这是一个关于晶体 杂质 半导体材料的相关问题,下面我们来看

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外延生长是一种生长硅单晶薄膜的方法,衬底材料中使用蒸发速率比较小的掺杂元素可以抑制自掺杂,比如Sb。

外延生长是一种生长硅单晶薄膜的方法,衬底材料中使用蒸发速率比较小的掺杂元素可以抑制自掺杂,比如Sb。这是一个关于生长 半导体材料 衬底的相关问题,下面我们来看

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