选择题:[论述题,3.3分] 在测量中,采取哪些措施来保证测量成果的正确性 题目分类:河南城建学院-工业测量系统 题目类型:选择题 查看权限:VIP 题目内容: [论述题,3.3分] 在测量中,采取哪些措施来保证测量成果的正确性 参考答案:
[填空题,3.3分] 我国地面上某点,在高斯平面直角坐标系的坐标为:x=3367301.301m,y [填空题,3.3分] 我国地面上某点,在高斯平面直角坐标系的坐标为:x=3367301.301m,y=19234567.211m,则该点属于 度带,位于 投影带 分类:河南城建学院-工业测量系统 题型:选择题 查看答案
[填空题,10分] 控制测量的主要目的是限制各项测量误差的 和 ,是进行各项测量工作的基础。 [填空题,10分] 控制测量的主要目的是限制各项测量误差的 和 ,是进行各项测量工作的基础。 分类:河南城建学院-工业测量系统 题型:选择题 查看答案
[填空题,10分] 直线的象限角是指直线与标准方向的北端或南端所夹的( ),并要标注所在象限 [填空题,10分] 直线的象限角是指直线与标准方向的北端或南端所夹的( ),并要标注所在象限 分类:河南城建学院-工业测量系统 题型:选择题 查看答案
[填空题,3.4分] 因半导体中掺加的杂质不同,含杂质半导体可分为()型半导体和()型半导体两类。 [填空题,3.4分] 因半导体中掺加的杂质不同,含杂质半导体可分为()型半导体和()型半导体两类。 分类:河南城建学院-工业测量系统 题型:选择题 查看答案